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维修技术达3000针以上

维修技术达3000针以上: 普铄电子维修技术达到1000以上

WAT测试低于0.1PA漏电探卡试验成功

WAT测试低于0.1PA漏电探卡试验成功: 多少年来，超低漏电探卡，一直是日本JEM公司的专利。近年来，依然研究WAT探卡，由于中国生产的线路板材的局限，但都在1PA以上的级别徘徊没有突破，通过反复试验，今年八月二十六日，刚通过HP4072机台测试，依然的WAT探卡每个通道在100V条件下的漏电都达到0.1PA以下，在国内生产还是第一家，全部的指标都在0.03PA以内，部分测值到达0.008PA，近日可以批量生产。因为依然请了有十多年测试经验的专家与依然技术人员共同研究，今..

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企业主要产品情况(重大项目开发与主要产品情况，以及主要应用服务领域。)探针卡（probe card）是晶圆测试（wafer test）中被测芯片（chip）和测试机之间的接口，主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量，并筛选出不良芯片后，再进行之后的封装工程。

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