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用途：用于Flip Chip、SOC & Logic Device、MCU等晶圆量产阶段高效（高密度、高同测DUT数）测试。
简介：先进的可弯曲式探针（Cobra）应对不同待测物体的Pad和DUT排列方式，单针容易更换，良好的维护性能，满足多DUT、Multi DUT，多类型封装，划痕小、接触稳定。
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Key Specifications |
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Probe Type |
Cobra |
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Tip Shape |
Flat/Point |
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Pad SIZE |
40x40um |
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Pad Pitch |
80um |
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DUT |
8X8 |
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Pin Count |
2000 |
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C.C.C |
1A |
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Frequency |
500Mhz |
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Temperature Range |
-40~150℃ |
普铄电子（上海）有限公司于2006年1月成立，专注于半导体测试探针卡，是一家集设计、研发及制造，覆盖悬臂、垂直、MEMS探针卡等多种类型，拥有40项授权专利（含5项发明专利）的公司。
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